France – Instruments d'optique – B26-01893-MV - Achat d'un microscope électronique à balayage et de ses équipements
Résumé IA
Cet appel d'offres porte sur l'achat d'un microscope électronique à balayage (MEB) équipé de colonnes électronique et ionique, de multiples détecteurs pour l'imagerie, d'un spectromètre EDS, d'injecteurs de gaz et d'un logiciel de détection automatique de particules. Le marché comprend la livraison, l'installation sur le site du CEA/DIF à Bruyères-le-Châtel et la formation des utilisateurs. Douze options supplémentaires couvrent des fonctionnalités analytiques additionnelles et des extensions de garantie.
Fabricants établis ou distributeurs autorisés d'équipements de microscopie électronique à balayage hautes performances, justifiant d'une capacité à intégrer des systèmes multi-détecteurs complexes et à assurer l'installation sur site et la formation.
Les fournisseurs doivent être des fabricants qualifiés ou des distributeurs autorisés de microscopes électroniques à balayage, capables de livrer un système intégré répondant aux normes techniques spécifiées. L'installation, la mise en service sur site et la formation du personnel sont des exigences obligatoires.
Questions fréquentes
De quoi traite cet appel d'offres ?
Cet appel d'offres porte sur l'achat d'un microscope électronique à balayage (MEB) équipé de colonnes électronique et ionique, de multiples détecteurs pour l'imagerie, d'un spectromètre EDS, d'injecteurs de gaz et d'un logiciel de détection automatique de particules. Le marché comprend la livraison, l'installation sur le site du CEA/DIF à Bruyères-le-Châtel et la formation des utilisateurs. Douze options supplémentaires couvrent des fonctionnalités analytiques additionnelles et des extensions de garantie.
Quelles sont les exigences pour les fournisseurs ?
Les fournisseurs doivent être des fabricants qualifiés ou des distributeurs autorisés de microscopes électroniques à balayage, capables de livrer un système intégré répondant aux normes techniques spécifiées. L'installation, la mise en service sur site et la formation du personnel sont des exigences obligatoires.
Quel type d'entreprise devrait soumissionner ?
Fabricants établis ou distributeurs autorisés d'équipements de microscopie électronique à balayage hautes performances, justifiant d'une capacité à intégrer des systèmes multi-détecteurs complexes et à assurer l'installation sur site et la formation.
Qui est l'acheteur ?
L'acheteur est COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES - DIF.
Quand cet appel d'offres se termine-t-il ?
Les soumissions se terminent le 20 mai 2026.
Les Prestations correspondent à l'achat d'un microscope électronique à balayage et de ses équipements, elles se décomposent comme suit : Une part ferme - Fourniture d’un microscope électronique à balayage comprenant les équipements et logiciels suivants : o La colonne électronique, o La colonne ionique ainsi que le logiciel associé permettant le réglage et le paramétrage de la colonne, o La platine et le porte échantillon, o Les détecteurs pour l’imagerie à savoir: Un détecteur d’électrons secondaires immergé dans la colonne électronique Un détecteur d’électrons secondaires rétractable situé dans le haut de la colonne électronique pour capter les électrons secondaires issus de l’extrême surface de l’échantillon. Un détecteur d’électrons rétrodiffusés immergé dans la colonne électronique à haute vitesse d’acquisition. Un détecteur qui permet à la fois la détection des ions (après conversion en électrons) et des électrons secondaires. Un détecteur d'électrons secondaires dédié au mode bas vide Un détecteur d’électrons rétrodiffusés rétractable o Un spectromètre de rayons X à sélection d’énergie (EDS) et le logiciel associé permettant l’acquisition et le traitement des spectres conformément au §2.5 du Cahier des Charges cité supra, o Le logiciel de recherche automatique de particules, o Injecteurs de gaz pour dépôts de matières, o Un dispositif de nettoyage de la pollution carbonée dans la chambre de mesure, o Dispositif de prélèvement de micro objets associé à la colonne ionique - La livraison et l’installation de l’équipement sur le site du CEA/DIF à Bruyères-le-Châtel - La formation à l’utilisation de l’appareil et du logiciel Une part optionnelle : - Option 1 – en cas de levée : Spectromètre combinant la détection des électrons rétrodiffusées et des rayons X, - Option 2 – en cas de levée : Spectromètre EDS sans fenêtre incluant la maintenance pour une durée d’un an, - Option 3 – en cas de levée : Spectromètre EDS rétractable à faible distance de l’échantillon incluant la maintenance pour une durée d’un an, - Option 4 – en cas de levée : Deux injecteurs de gaz : un injecteur d’or et un injecteur de carbone incluant la maintenance pour une durée d’un an, - Option 5 – en cas de levée : Un détecteur STEM incluant la maintenance pour une durée d’un an, - Option 6 – en cas de levée : Un détecteur de type EBSD incluant la maintenance pour une durée d’un an, - Option 7 – en cas de levée : Un dispositif de improvement munis de pinces incluant la maintenance pour une durée d’un an, - Option 8 – en cas de levée : Logiciel de reconstruction en trois dimension, - Option 9 – en cas de levée : Logiciel de post-traitement des images et spectres, - Option 10 – en cas de levée : Maintenance pour une durée d’un an à l’issue de la période de garantie pour l’ensemble des équipements de la part ferme - Option 11 – en cas de levée : Garantie pour une durée de deux ans des équipements de la part ferme - Option 12 – en cas de levée : Garantie pour une durée de trois ans des équipements de la part ferme
B26-01893-MV - Achat d'un microscope électronique à balayage et de ses équipements
Les Prestations correspondent à l'achat d'un microscope électronique à balayage et de ses équipements, elles se décomposent comme suit : Une part ferme - Fourniture d’un microscope électronique à balayage comprenant les équipements et logiciels suivants : o La colonne électronique, o La colonne ionique ainsi que le logiciel associé permettant le réglage et le paramétrage de la colonne, o La platine et le porte échantillon, o Les détecteurs pour l’imagerie à savoir: Un détecteur d’électrons secondaires immergé dans la colonne électronique Un détecteur d’électrons secondaires rétractable situé dans le haut de la colonne électronique pour capter les électrons secondaires issus de l’extrême surface de l’échantillon. Un détecteur d’électrons rétrodiffusés immergé dans la colonne électronique à haute vitesse d’acquisition. Un détecteur qui permet à la fois la détection des ions (après conversion en électrons) et des électrons secondaires. Un détecteur d'électrons secondaires dédié au mode bas vide Un détecteur d’électrons rétrodiffusés rétractable o Un spectromètre de rayons X à sélection d’énergie (EDS) et le logiciel associé permettant l’acquisition et le traitement des spectres conformément au §2.5 du Cahier des Charges cité supra, o Le logiciel de recherche automatique de particules, o Injecteurs de gaz pour dépôts de matières, o Un dispositif de nettoyage de la pollution carbonée dans la chambre de mesure, o Dispositif de prélèvement de micro objets associé à la colonne ionique - La livraison et l’installation de l’équipement sur le site du CEA/DIF à Bruyères-le-Châtel - La formation à l’utilisation de l’appareil et du logiciel Une part optionnelle : - Option 1 – en cas de levée : Spectromètre combinant la détection des électrons rétrodiffusées et des rayons X, - Option 2 – en cas de levée : Spectromètre EDS sans fenêtre incluant la maintenance pour une durée d’un an, - Option 3 – en cas de levée : Spectromètre EDS rétractable à faible distance de l’échantillon incluant la maintenance pour une durée d’un an, - Option 4 – en cas de levée : Deux injecteurs de gaz : un injecteur d’or et un injecteur de carbone incluant la maintenance pour une durée d’un an, - Option 5 – en cas de levée : Un détecteur STEM incluant la maintenance pour une durée d’un an, - Option 6 – en cas de levée : Un détecteur de type EBSD incluant la maintenance pour une durée d’un an, - Option 7 – en cas de levée : Un dispositif de improvement munis de pinces incluant la maintenance pour une durée d’un an, - Option 8 – en cas de levée : Logiciel de reconstruction en trois dimension, - Option 9 – en cas de levée : Logiciel de post-traitement des images et spectres, - Option 10 – en cas de levée : Maintenance pour une durée d’un an à l’issue de la période de garantie pour l’ensemble des équipements de la part ferme - Option 11 – en cas de levée : Garantie pour une durée de deux ans des équipements de la part ferme - Option 12 – en cas de levée : Garantie pour une durée de trois ans des équipements de la part ferme
Critères d'évaluation non précisés
Calcul du score…
Analyse IA des documents
Nous lisons les PDF et DOCX du marché et en extrayons les exigences clés, les échéances, le budget et les points de vigilance.
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