France – Machines et appareils microélectroniques – Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)
Résumé IA
Cet appel d'offres porte sur la fourniture d'un microscope à faisceau d'ions focalisés (FIB) à plasma couplé à une colonne de microscope électronique à balayage (MEB). Le contrat inclut l'équipement principal et des services optionnels tels que la formation à la maintenance, les porte-échantillons, les consommables, les systèmes de refroidissement et les filtres de détection avancés.
Fabricants d'équipements ou distributeurs autorisés spécialisés dans l'instrumentation de microscopie électronique et de faisceaux d'ions pour la recherche et les applications industrielles.
Les fournisseurs doivent être des fabricants qualifiés ou des distributeurs autorisés d'équipements d'analyse microélectronique avancée. Les spécifications techniques doivent respecter les critères de performance standard des systèmes FIB-MEB pour la caractérisation et l'analyse de matériaux.
Questions fréquentes
De quoi traite cet appel d'offres ?
Cet appel d'offres porte sur la fourniture d'un microscope à faisceau d'ions focalisés (FIB) à plasma couplé à une colonne de microscope électronique à balayage (MEB). Le contrat inclut l'équipement principal et des services optionnels tels que la formation à la maintenance, les porte-échantillons, les consommables, les systèmes de refroidissement et les filtres de détection avancés.
Quelles sont les exigences pour les fournisseurs ?
Les fournisseurs doivent être des fabricants qualifiés ou des distributeurs autorisés d'équipements d'analyse microélectronique avancée. Les spécifications techniques doivent respecter les critères de performance standard des systèmes FIB-MEB pour la caractérisation et l'analyse de matériaux.
Quel type d'entreprise devrait soumissionner ?
Fabricants d'équipements ou distributeurs autorisés spécialisés dans l'instrumentation de microscopie électronique et de faisceaux d'ions pour la recherche et les applications industrielles.
Qui est l'acheteur ?
L'acheteur est COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES.
La consultation comprend : - La fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB), - Des options : o Formation à la maintenance 1er niveau o Porte échantillons supplémentaires o Consommables (y compris les configurations d'ouverture standard) o Refroidissement des échantillons sans azote o Possibilité de filtrer les électrons secondaires du signal rétrodiffusé o Formation à la maintenance avancée
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Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)
La consultation comprend : - La la fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB). - Des options : o Formation à la maintenance 1er niveau o Porte échantillons supplémentaires o Consommables (y compris les configurations d'ouverture standard) o Refroidissement des échantillons sans azote o Possibilité de filtrer les électrons secondaires du signal rétrodiffusé o Formation à la maintenance avancée
Critères d'évaluation non précisés
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Analyse IA des documents
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