France – Machines et appareils microélectroniques – Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)
AI summary
This tender concerns the supply of a plasma-coupled focused ion beam (FIB) microscope integrated with a scanning electron microscope (SEM) column. The contract includes the main equipment and optional services such as maintenance training, sample holders, consumables, sample cooling systems, and advanced filtration capabilities.
Equipment manufacturers or authorized distributors specializing in electron microscopy and ion beam instrumentation for research and industrial applications.
Suppliers must be qualified manufacturers or authorized distributors of advanced microelectronic analysis equipment. Technical specifications must meet or exceed standard FIB-SEM performance criteria for materials characterization and analysis.
Frequently asked questions
What is this tender about?
This tender concerns the supply of a plasma-coupled focused ion beam (FIB) microscope integrated with a scanning electron microscope (SEM) column. The contract includes the main equipment and optional services such as maintenance training, sample holders, consumables, sample cooling systems, and advanced filtration capabilities.
What are the requirements for suppliers?
Suppliers must be qualified manufacturers or authorized distributors of advanced microelectronic analysis equipment. Technical specifications must meet or exceed standard FIB-SEM performance criteria for materials characterization and analysis.
What type of company should bid?
Equipment manufacturers or authorized distributors specializing in electron microscopy and ion beam instrumentation for research and industrial applications.
Who is the buyer?
The buyer is COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES.
La consultation comprend : - La fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB), - Des options : o Formation à la maintenance 1er niveau o Porte échantillons supplémentaires o Consommables (y compris les configurations d'ouverture standard) o Refroidissement des échantillons sans azote o Possibilité de filtrer les électrons secondaires du signal rétrodiffusé o Formation à la maintenance avancée
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Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)
La consultation comprend : - La la fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB). - Des options : o Formation à la maintenance 1er niveau o Porte échantillons supplémentaires o Consommables (y compris les configurations d'ouverture standard) o Refroidissement des échantillons sans azote o Possibilité de filtrer les électrons secondaires du signal rétrodiffusé o Formation à la maintenance avancée
Scoring criteria not specified
Computing match…
AI document analysis
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