France – Microscopes électroniques à balayage – Fourniture d'un microscope à double faisceaux électronique et ionique (MEB-FIB) nucléarisé et de ses accessoires (nano-indenteur in-situ et système de métallisation et dépôt carbone) pour le Groupe de Physique des Matériaux.
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Fourniture d'un microscope à double faisceaux électronique et ionique (MEB-FIB) nucléarisé et de ses accessoires (nano-indenteur in-situ et système de métallisation et dépôt carbone) pour le Groupe de Physique des Matériaux, Université de Rouen Normandie
Lot 1 MEB/FIB
Lot 1 - Fourniture d'un microscope à « double faisceaux », c'est à dire un microscope électronique à balayage (MEB) équipé d'une colonne à faisceau d'ions focalisé.
Lot 2 Nano-indenteur in situ
Lot 2 - Fourniture d'un nano-indenteur in situ. Plateforme d’indentation instrumentée qui peut s’installer dans un microscope électronique à balayage pour réaliser des essais de micro- et nano-mécanique in situ, afin de visualiser en direct les essais avec le microscope.
Lot 3 Système de métallisation et de dépôt carbone
Lot 3 - Fourniture d'un système de métallisation et de dépôt carbone par tresse Carbone fonctionnant sous vide secondaire.
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