France – Conception et exécution dans le domaine de la recherche et du développement – Conception et réalisation d’environnements de tests de circuits intégrés
Résumé IA
Cet appel d'offres porte sur la conception et la réalisation d'environnements de tests pour circuits intégrés. Le prestataire développera des cartes de test électroniques et effectuera des tests complets de circuits intégrés analogiques, RF, numériques et mixtes, ainsi que de mémoires spécialisées (OxRAM, FeRAM), sur des cartes développées en interne ou fournies par le CEA.
Les entreprises d'ingénierie ou fabricants d'électronique spécialisés dans le test de circuits intégrés, la conception électronique et le développement de prototypes doivent candidater. Elles doivent justifier de compétences avérées en conception de matériel de test et en méthodologies de test RF/analogique/numérique.
Les fournisseurs doivent démontrer une expertise en conception et fabrication de cartes de test électroniques, en test de circuits intégrés multi-technologies (analogique, RF, numérique, mixte), et en test de mémoires. L'expérience en définition d'environnements de test et développement de démonstrateurs applicatifs est requise.
Questions fréquentes
De quoi traite cet appel d'offres ?
Cet appel d'offres porte sur la conception et la réalisation d'environnements de tests pour circuits intégrés. Le prestataire développera des cartes de test électroniques et effectuera des tests complets de circuits intégrés analogiques, RF, numériques et mixtes, ainsi que de mémoires spécialisées (OxRAM, FeRAM), sur des cartes développées en interne ou fournies par le CEA.
Quelles sont les exigences pour les fournisseurs ?
Les fournisseurs doivent démontrer une expertise en conception et fabrication de cartes de test électroniques, en test de circuits intégrés multi-technologies (analogique, RF, numérique, mixte), et en test de mémoires. L'expérience en définition d'environnements de test et développement de démonstrateurs applicatifs est requise.
Quel type d'entreprise devrait soumissionner ?
Les entreprises d'ingénierie ou fabricants d'électronique spécialisés dans le test de circuits intégrés, la conception électronique et le développement de prototypes doivent candidater. Elles doivent justifier de compétences avérées en conception de matériel de test et en méthodologies de test RF/analogique/numérique.
Qui est l'acheteur ?
L'acheteur est CEA Grenoble.
Quand cet appel d'offres se termine-t-il ?
Les soumissions se terminent le 29 juin 2026.
Cette consultation concerne des prestations de réalisation de cartes électroniques pour le test, et/ou pour la réalisation de tests d’un circuit intégré, sur la base d’une carte de test électronique développée par le prestataire, ou fournie par le CEA. Les prestations confiées au titulaire ont pour objet (liste non exhaustive) - La définition d’un environnement de test suivant un cahier des charges de test - Le développement de l’environnement de test, en particulier la conception et la réalisation de cartes de test dédiées au composant à tester - Le test de circuits intégrés analogiques et RF sur carte de test développée ou non par le titulaire - Le test de circuits intégrés numériques sur carte de test développée ou non par le titulaire - Le test de circuits intégrés mixtes sur carte de test développée ou non par le titulaire - Le test de mémoires de type OxRAM ou FeRAM sur carte de test développée ou non par le titulaire - La réalisation de démonstrateurs applicatifs qui embarquent une carte de test développée ou non par le titulaire
Conception et réalisation d’environnements de tests de circuits intégrés
Cette consultation concerne des prestations de réalisation de cartes électroniques pour le test, et/ou pour la réalisation de tests d’un circuit intégré, sur la base d’une carte de test électronique développée par le prestataire, ou fournie par le CEA. Les prestations confiées au titulaire ont pour objet (liste non exhaustive) - La définition d’un environnement de test suivant un cahier des charges de test - Le développement de l’environnement de test, en particulier la conception et la réalisation de cartes de test dédiées au composant à tester - Le test de circuits intégrés analogiques et RF sur carte de test développée ou non par le titulaire - Le test de circuits intégrés numériques sur carte de test développée ou non par le titulaire - Le test de circuits intégrés mixtes sur carte de test développée ou non par le titulaire - Le test de mémoires de type OxRAM ou FeRAM sur carte de test développée ou non par le titulaire - La réalisation de démonstrateurs applicatifs qui embarquent une carte de test développée ou non par le titulaire
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