Fourniture d'un microscope à double faisceaux électronique et ionique (MEB-FIB) nucléarisé et de ses accessoires (nano-indenteur in-situ et système de métallisation et dépôt carbone) pour le Groupe...
AI summary
This tender concerns the supply of a dual-beam scanning electron microscope with focused ion beam (SEM-FIB) system equipped with nuclear-grade components, together with in-situ nanoindentation and metallization/carbon deposition accessories for the Materials Physics Group at Rouen Normandie University.
Equipment manufacturers or authorized distributors specializing in advanced electron microscopy, focused ion beam systems, and in-situ analytical accessories for research institutions.
Suppliers must provide a complete, fully integrated dual-beam microscopy system meeting nuclear safety standards, with documented technical specifications, installation support, training, and warranty coverage for specialized analytical instrumentation.
Frequently asked questions
What is this tender about?
This tender concerns the supply of a dual-beam scanning electron microscope with focused ion beam (SEM-FIB) system equipped with nuclear-grade components, together with in-situ nanoindentation and metallization/carbon deposition accessories for the Materials Physics Group at Rouen Normandie University.
What are the requirements for suppliers?
Suppliers must provide a complete, fully integrated dual-beam microscopy system meeting nuclear safety standards, with documented technical specifications, installation support, training, and warranty coverage for specialized analytical instrumentation.
What type of company should bid?
Equipment manufacturers or authorized distributors specializing in advanced electron microscopy, focused ion beam systems, and in-situ analytical accessories for research institutions.
Who is the buyer?
The buyer is Université de Rouen Normandie.
When does this tender close?
Submissions close on June 8, 2026.
What is the estimated value?
The estimated value is 0 EUR.
Fourniture d'un microscope à double faisceaux électronique et ionique (MEB-FIB) nucléarisé et de ses accessoires (nano-indenteur in-situ et système de métallisation et dépôt carbone) pour le Groupe de Physique des Matériaux, Université de Rouen Normandie
Lot 1 MEB/FIB
Lot 1 - Fourniture d'un microscope à « double faisceaux », c'est à dire un microscope électronique à balayage (MEB) équipé d'une colonne à faisceau d'ions focalisé.
Lot 2 Nano-indenteur in situ
Lot 2 - Fourniture d'un nano-indenteur in situ. Plateforme d’indentation instrumentée qui peut s’installer dans un microscope électronique à balayage pour réaliser des essais de micro- et nano-mécanique in situ, afin de visualiser en direct les essais avec le microscope.
Lot 3 Système de métallisation et de dépôt carbone
Lot 3 - Fourniture d'un système de métallisation et de dépôt carbone par tresse Carbone fonctionnant sous vide secondaire.
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AI document analysis
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